請(qǐng)先確定相應(yīng)安規(guī)單位對(duì)受測(cè)產(chǎn)品所允許使用的是為交流電壓還是直流電壓，應(yīng)按要求測(cè)試。有些產(chǎn)品既可以用交流電壓測(cè)試，也可以用直流電壓測(cè)試，那末生產(chǎn)廠家可根據(jù)產(chǎn)品特點(diǎn)自己決定使用，使用者必須了解這兩種測(cè)試電壓的優(yōu)缺點(diǎn)。

一、交流耐電壓（ACW）測(cè)試的特點(diǎn)

大部分做耐電壓測(cè)試的產(chǎn)品都會(huì)有一定的雜散電容量，用交流測(cè)試時(shí)會(huì)有一持續(xù)的容性電流流過雜散電容。

1. 交流耐電壓（ACW）測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)

一般而言，交流測(cè)試比直流測(cè)試更容易被安規(guī)單位接受。這是因?yàn)榇蟛糠值漠a(chǎn)品都使用交流電，而交流測(cè)試可以同時(shí)對(duì)產(chǎn)品正負(fù)性的測(cè)試，與產(chǎn)品使用的環(huán)境一致，符合實(shí)際使用狀況。

除非產(chǎn)品對(duì)沖擊電壓特別敏感，或標(biāo)準(zhǔn)要求緩慢升壓，用交流測(cè)試可以一開始就直接施加全電壓。

交流測(cè)試后一般不必等待放電。

2. 交流測(cè)試的缺點(diǎn)

如果待測(cè)物的雜散電容量很大或者待測(cè)物是一容性負(fù)載時(shí)，交流測(cè)試中所產(chǎn)生的電流會(huì)遠(yuǎn)大于實(shí)際的漏電流，因而無法得知待測(cè)物實(shí)際的漏電流。

另外一個(gè)缺點(diǎn)是由于測(cè)試儀器要供應(yīng)雜散電容所需的電流，因此儀器所要供應(yīng)的電流比采取直流測(cè)試時(shí)的電流大。有時(shí)需要很大功率的儀器才能正常測(cè)試。

二、直流耐電壓（DCW）測(cè)試的特點(diǎn)

在直流耐電壓測(cè)試時(shí)，待測(cè)物的雜散電容會(huì)被充滿電，容性電流終會(huì)下降為零。

1. 直流耐電壓（DCW）測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)

一旦待測(cè)物的雜散電容被充滿電，只會(huì)剩下待測(cè)物的實(shí)際漏電流。因此直流耐電壓測(cè)試可以清楚地顯示出待測(cè)物的實(shí)際漏電流。

由于僅需在短時(shí)間內(nèi)提供雜散電容的充電電流，其它時(shí)間所需電流很小，所以儀器的功率遠(yuǎn)低于交流耐電壓測(cè)試儀器的功率。

2. 直流耐電壓（DCW）測(cè)試的缺點(diǎn)

除非待測(cè)物上沒有任何電容量存在，否則測(cè)試電壓必須由“零"開始緩慢上升，以避免充電電流過大，電容量越大所需的緩升時(shí)間越長(zhǎng)，一次所能增加的電壓也越低。充電電流過大一定會(huì)引起測(cè)試儀的誤判，使測(cè)試的結(jié)果不正確。

由于直流耐電壓測(cè)試時(shí)會(huì)對(duì)待測(cè)物充電，所以在測(cè)試后，一定要先對(duì)待測(cè)物放電，才能做下一步工作。

與交流耐電壓測(cè)試不一樣，直流耐電壓測(cè)試只能做單一性測(cè)試，如果產(chǎn)品要使用于交流電壓下，這一缺點(diǎn)必須被充分考慮。這也是大多數(shù)安規(guī)單位都建議使用交流耐電壓測(cè)試的原因。

在交流耐電壓測(cè)試時(shí)，電壓的波峰值是電壓指示值的1.4倍，所以多數(shù)安規(guī)單位都要求，如果使用直流耐電壓測(cè)試，必須提高測(cè)試電壓到相等的數(shù)值。